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電子元器件的失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例

電子元器件的失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例課程
[課程簡介]:失效分析是電子產(chǎn)品可靠性的事后分析技術(shù),對已經(jīng)失效的產(chǎn)品,借助先進的制樣、失效定位、電學分析、形貌分析、成分分析以及各種應力試驗驗證等技術(shù),診斷產(chǎn)品失效的機理,失效的原因,找出產(chǎn)品在設(shè)計和制造過程中存在的“細節(jié)”缺陷,以糾正產(chǎn)品設(shè)計、制造中的“細節(jié)”失誤,從而控制產(chǎn)品失效,是提高產(chǎn)品可靠性的有效手段。 ...

【時間地點】 2022年4月22-23日 深圳
【培訓講師】 李老師
【參加對象】 從事整機系統(tǒng)設(shè)計、元器件采購管控、質(zhì)量可靠性管理、可靠性分析、整機故障診斷(故障歸零)、元器件失效分析的工程師和管理人員。
【參加費用】 ¥4280元/人 (含資料費、午餐、茶點、發(fā)票)
【會務(wù)組織】 森濤培訓網(wǎng)(wwwb1393.com).廣州三策企業(yè)管理咨詢有限公司
【咨詢電話】 020-34071250;020-34071978(提前報名可享受更多優(yōu)惠)
【聯(lián) 系 人】 龐先生,鄧小姐;13378458028、18924110388(均可加微信)
【在線 QQ 】 568499978 培訓課綱 課綱下載    
【溫馨提示】 本課程可引進到企業(yè)內(nèi)部培訓,歡迎來電預約!
培訓關(guān)鍵詞:電子元器件培訓

電子元器件的失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例(李老師)課程介紹:

課程背景:
    失效分析是電子產(chǎn)品可靠性的事后分析技術(shù),對已經(jīng)失效的產(chǎn)品,借助先進的制樣、失效定位、電學分析、形貌分析、成分分析以及各種應力試驗驗證等技術(shù),診斷產(chǎn)品失效的機理,失效的原因,找出產(chǎn)品在設(shè)計和制造過程中存在的“細節(jié)”缺陷,以糾正產(chǎn)品設(shè)計、制造中的“細節(jié)”失誤,從而控制產(chǎn)品失效,是提高產(chǎn)品可靠性的有效手段。事實上,電子產(chǎn)品總會存在各種各樣的失效,產(chǎn)品在不斷與失效作斗爭中不斷提高可靠性,失效分析是與產(chǎn)品失效作斗爭的最有效的工具。“電子元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例”分為兩講,第一講是“電子元器件失效分析技術(shù)”,這一講中首先簡單講述電子產(chǎn)品(包括各種元器件、集成電路、組件等)失效分析的主要術(shù)語,失效分析的程序和方法。重點通過具體的分析案例,剖析失效分析的程序和方法各個節(jié)點的分析要點和分析技巧。通過學習讓學員掌握怎樣開展失效分析工作,采用什么分析儀器設(shè)備提取失效樣品的失效證據(jù),怎樣研判失效證據(jù)與樣品失效的關(guān)系,從而診斷失效樣品的失效機理;掌握分析設(shè)備的應用技巧和失效分析中的關(guān)鍵問題。第二講是“失效分析經(jīng)典案例”,通過典型的失效分析案例的剖析,加深失效分析程序和方法的掌握,通過典型的失效分析案例講述各種元器件、各種失效機理的分析、診斷方法,并在失效分析的案例中培訓學員怎樣考慮問題、怎樣采用合適的分析手段(分析儀器、設(shè)備)提取證據(jù),怎樣識別各種失效機理的表現(xiàn)特征,怎樣對獲得的各方面的信息、證據(jù)進行綜合分析以達到對失效產(chǎn)品進行準確診斷的目的。

課程概要及收益:    
1.了解元器件特點基本認知;    
2.了解元器件失效的基本原理和重要技術(shù)特性;    
3.掌握元器件失效分析的主要特性及作用;    
4.掌握元器件失效分析的主要分析方法、技巧與手段;    
5.掌握元器件失效分析特殊應用技術(shù)與要求;    
6.掌握元器件失效的缺陷控制解決方案;    
7.掌握元器件失效分析技術(shù)與仿真模擬技術(shù)的應用;    
9.掌握元器件失效分析經(jīng)典案例及防止措施。  

本課程將涵蓋以下主題:  

第一篇 失效分析技術(shù)方法及分析技巧
    失效分析的目的是找到失效樣品的失效機理及其失效原因。找到失效機理及失效原因的根本在于“失效證據(jù)”,即要找什么“失效證據(jù)”,用什么來找“失效證據(jù)”,怎樣剖析找到的“失效證據(jù)”,診斷元器件的失效機理和原因。
    本篇按照“先外部,后內(nèi)部,先非破壞性分析到破壞性分析”的失效分析基本原則,圍繞找什么證據(jù),用什么找證據(jù)”,找到證據(jù)怎樣剖析介紹失效分析的分析流程、分析方法、分析技巧,以及目前失效分析的主要儀器設(shè)備的應用。

第一講  失效分析概論  
1.基本概念     
2.失效分析的定義和作用  
3.失效模式    
4.失效機理  
5.一些標準對失效分析的要求    
6.標準和資料  

第二講  失效分析技術(shù)和設(shè)備  
1. 失效分析基本程序  
A.基本方法與程序        
B.失效信息調(diào)查與方案設(shè)計  
C.非破壞性分析的基本路徑    
D.半破壞性分析的基本路徑  
E. 破壞性分析的基本路徑     
F.報告編制  
2. 非破壞性分析的基本路徑  
A.外觀檢查    
B.電參數(shù)測試分析與模擬應力試驗  
C.檢漏與PIND    
D.X光與掃描聲學分析  
3.半破壞性分析的基本路徑  
A.開封技術(shù)與可動微粒收集     
B.內(nèi)部氣氛檢測(與前項有沖突)  
C.不加電的內(nèi)部檢查(光學.SEM與EDS.微區(qū)成分)  
D.加電的內(nèi)部檢查(微探針.紅外熱像.EMMI光發(fā)射.電壓襯度像.束感生電流像.電子束探針).  
4.破壞性分析的基本路徑  
5.分析技術(shù)與分析設(shè)備清單

第二篇 電子元器件物理(結(jié)構(gòu))分析與采購批的缺陷控制電子元器件可以歸結(jié)為特定的工藝、將特定的材料、做成特定的結(jié)構(gòu),來實現(xiàn)電子元器件特定的功能。
物理分析(結(jié)構(gòu)分析)采用先進的解剖、分析技術(shù),研判元器件的設(shè)計、結(jié)構(gòu)、材料和制造工藝質(zhì)量是否滿足預定用途或有關(guān)規(guī)范的要求。以剔除由于設(shè)計、材料、制造過程中造成的、并且在同一批元器件中可引起重復出現(xiàn)的缺陷的元器件批,從而控制由于元器件具有批次性缺陷而引起的整機系統(tǒng)MTBF(平均無故障工作時間)降低的可靠性問題。  
本篇介紹電子元器件缺陷分析方法,目前電子元器件主要的缺陷模式,翻新假冒的現(xiàn)狀及翻新假冒的判斷控制方法。同時也將介紹仿真模擬技術(shù)在元器件失效分析中的具體應用與產(chǎn)品可靠性壽命的評估等!

第三篇 元器件失效分析經(jīng)典案例
“可靠性是設(shè)計進去制造出來的”,也就說,設(shè)計決定產(chǎn)品的可靠性,制造保證產(chǎn)品的可靠性?煽啃栽诋a(chǎn)品的設(shè)計和制造中的核心是“細節(jié)”,產(chǎn)品在制造中出現(xiàn)的次品,在使用過程中出現(xiàn)的故障就是“細節(jié)”問題的體現(xiàn)。
產(chǎn)品的質(zhì)量可靠性問題歸結(jié)起來有:設(shè)計缺陷的問題,物料(元器件、集成電路、PCB、輔料)缺陷的問題,制造過程物料防護的問題,制造工藝缺陷的問題。這些問題就是產(chǎn)品制造過程中方方面面的細節(jié)沒有到位的結(jié)果。
本篇歸納總結(jié)了目前整機系統(tǒng)中常見的設(shè)計、制造工藝、元器件采購中“細節(jié)”問題引起的故障案例,剖析故障案例的分析方法、失效產(chǎn)生原因、失效的控制方法。案例主要包括:
1設(shè)計缺陷案例
(1)電路原理和PCB版圖設(shè)計缺陷案例
(2)元器件選用和元器件配合缺陷
(3)安裝結(jié)構(gòu)缺陷案例
2元器件(零部件)缺陷案例
(1)元器件固有機理失效
(2)元器件常見缺陷案例
3 制造工藝缺陷案例
(1)焊接工藝失效案例
(2)裝配機械應力失效案例
(3)污染及腐蝕失效案例
4 過電應力失效案例
(1)電壓失效案例
(2)電流失效案例
(3)熱及功率失效案例
5 飛弧放電失效案例    
飛弧放電主要是指具有電壓的兩個電極之間的氣體被擊穿,擊穿時氣體被電離而參與導電.發(fā)生飛弧放電的案例中,大部分案例產(chǎn)生的熱量大,有發(fā)生火災的潛在可能.案例主要包括:表面爬電引起空氣電離,參與導電的飛弧放電;多余物改變電極之間距離引起電極之間耐壓下降,導致空氣被電離而參與導電的飛弧放電;密封腔體破裂,外部氣體侵入,導致腔體內(nèi)部氣體耐壓下降引起氣體電離參與導電的飛弧放電,系統(tǒng)整機的環(huán)境惡化,空氣耐壓能力下降的飛弧放電。

老師介紹
李老師
    1984年畢業(yè)于成都電訊工程學院(現(xiàn)電子科技大學)半導體器件專業(yè),畢業(yè)后一直從事電子產(chǎn)品可靠性研究、分析工作。具有豐富的DPA和FA工作經(jīng)驗,并積累了大量的經(jīng)典分析案例,是可靠性研究分析中心資深的DPA、FA專家。     
     2003年~至今每年的《失效分析技術(shù)及失效分析經(jīng)典案例》公開研修班以及企業(yè)內(nèi)部培訓的主講講師。曾經(jīng)為美的失效分析實驗室建設(shè)技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)內(nèi)訓,海爾檢測中心的技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)內(nèi)訓,廣東核電進行電子元器件老化技術(shù),繼電器老化管理,板件老化分析內(nèi)訓,中興通訊的失效分析技術(shù)內(nèi)訓,并經(jīng)常與企業(yè)開展失效分析技術(shù)現(xiàn)場研討,曾經(jīng)與華為、富士康、艾默生、九州、九院五所、201所、中科院等進行失效分析現(xiàn)場研討。    
     先后參與《失效分析經(jīng)典案例100例》和《電子元器件失效技術(shù)》的編寫。  
      主要培訓的企業(yè)有:美的失效分析實驗室建設(shè)技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)培訓,海爾檢測中心的技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)培訓,廣東核電進行電子元器件老化技術(shù),繼電器老化管理,板件老化管理培訓,中興通訊的失效分析技術(shù)培訓,富士康失效分析技術(shù)現(xiàn)場研討,中國賽寶實驗室元器件可靠性研究分析中培訓學員的實習指導,以及失效分析專題公開培訓。先后參與《失效分析經(jīng)典案例100例》和《電子元器件失效技術(shù)》的編寫。


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