硬件電路可靠性設(shè)計、測試及案例分析

硬件電路可靠性設(shè)計、測試及案例分析(Randy Wang)課程介紹：

課程特色
 ◇ 案例多，案例均來自于電路設(shè)計缺陷導(dǎo)致的實際產(chǎn)品可靠性問題
 ◇ 課程內(nèi)容圍繞電路可靠性設(shè)計所涉及的主要環(huán)節(jié)，針對電路研發(fā)過程中可能遇到可靠性問題，針對電路設(shè)計、元器件應(yīng)用中潛在的缺陷，基于大量工程設(shè)計實例和故障案例，進行深入解析
 ◇ 每個技術(shù)要點，均通過工程實踐中的實際案例分析導(dǎo)入，并從案例中提取出一般性的方法、思路，引導(dǎo)學(xué)員，將這些方法落地，在工程實踐中加以應(yīng)用

課程內(nèi)容

第一章 與硬件電路可靠性相關(guān)的幾個關(guān)鍵問題的分析
在硬件電路的可靠性設(shè)計中，以下8個關(guān)鍵點至關(guān)重要。對每個關(guān)鍵點，Randy均基于具體的工程實例，加以詳細分析。
1. 關(guān)鍵點1：質(zhì)量與可靠性的區(qū)別
2. 關(guān)鍵點2：產(chǎn)品壽命與產(chǎn)品個體故障之間的關(guān)系
3. 關(guān)鍵點3：硬件產(chǎn)品研發(fā)中不可忽略的法則
4. 關(guān)鍵點4：硬件電路設(shè)計中提高可靠性的兩個主要方法
5. 關(guān)鍵點5：板內(nèi)電路測試、系統(tǒng)測試、可靠性測試，三者間的關(guān)系
6. 關(guān)鍵點6：關(guān)注溫度變化引起的電路特性改變，掌握其變化規(guī)律
7. 關(guān)鍵點7：判斷是否可能出現(xiàn)潛在故障，最關(guān)鍵的判決依據(jù)
8. 關(guān)鍵點8：穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)沖擊對電路應(yīng)力的影響及其差別，以及如何從datasheet中提取這類要求

第二章 電路元器件選型和應(yīng)用中的可靠性
1. 鉭電容、鋁電解電容、陶瓷電容，選型與應(yīng)用中的可靠性問題，各類電容在哪些場合應(yīng)避免使用，及案例分析
2. 電感、磁珠，應(yīng)用中的可靠性問題，及案例分析
3. 共模電感（共模扼流圈）選型時的考慮因素與實例
4. 二極管、肖特基二極管、三極管、MOSFET，選型與應(yīng)用中的可靠性問題，及案例分析
5. 晶體、晶振，應(yīng)用中的可靠性問題，及案例分析
6. 保險管應(yīng)用中的可靠性問題，保險管選型與計算實例
7. 光耦等隔離元器件應(yīng)用中的可靠性問題，及從可靠性出發(fā)的參數(shù)計算方法
8. 緩沖器（buffer）在可靠性設(shè)計中的應(yīng)用與實例
9. I2C電路常見的可靠性問題與對策，及工程實例
10. 電路上拉、下拉電阻的阻值計算與可靠性問題，及工程實例
11. 復(fù)位電路常見的可靠性問題與案例分析
12. 元器件參數(shù)值的偏差引起的可靠性問題，及計算實例
13. 元器件降額規(guī)范與工程實例
 ◇ 目前企業(yè)在元器件降額方面的3種工作模式與各自的優(yōu)缺點
 ◇ 元器件降額的幾個常見誤區(qū)與分析
 ◇ 降額背后的原理
 ◇ 降額標(biāo)準(zhǔn)、企事業(yè)單位內(nèi)部降額標(biāo)準(zhǔn)如何制定？如何執(zhí)行？
 ◇ 電阻降額實例分析與計算
 ◇ 電容降額實例分析與計算
 ◇ MOSFET降額實例與計算
 ◇ 芯片降額實例與分析
 ◇ 問題：在某些要求很高的產(chǎn)品中，元器件參數(shù)不僅無法降額，甚至工作值需要超過額定值，思路與解決方法

第三章 芯片應(yīng)用中的可靠性
1. 芯片容易受到的兩種損傷（ESD和EOS）及機理分析、工程實例解析
2. 芯片信號接口受到的過沖及分析，工程案例解析
3. 芯片的驅(qū)動能力及相關(guān)的可靠性問題，驅(qū)動能力計算方法與實例
4. 是否需要采用擴頻時鐘，及其可靠性分析與案例解析
5. DDRx SDRAM應(yīng)用中的可靠性問題與案例
6. Flash存儲器應(yīng)用中的可靠性問題與案例
7. 芯片型號導(dǎo)致的問題與案例分析、規(guī)避策略
8. 讀懂芯片手冊---學(xué)會尋找datasheet提出的對設(shè)計的要求
9. 芯片升級換代可能產(chǎn)生的可靠性問題，案例分析
10. 高溫、低溫等極限環(huán)境對芯片的壓力分析、案例解析
11. 信號抖動對芯片接收端工作的可靠性影響、調(diào)試方法與案例分析

第四章 時鐘、濾波、監(jiān)測等電路設(shè)計中的可靠性
1. 時鐘電路設(shè)計的可靠性
 ◇ 時鐘電路9個潛在的可靠性問題與案例分析
 ◇ 時鐘電路的PCB設(shè)計要點與案例分析
2. 時序設(shè)計的可靠性問題與案例分析
3. 濾波電路設(shè)計的可靠性
 ◇ 濾波電路7個潛在的可靠性問題與案例分析
 ◇ 濾波電路設(shè)計中，最難解決的兩個問題及其對可靠性的影響、解決對策
 ◇ 濾波電路PCB設(shè)計與潛在的可靠性問題、案例分析
4. 監(jiān)測電路設(shè)計的可靠性
 ◇ 硬件電路設(shè)計中常用的監(jiān)測方法、5個關(guān)鍵監(jiān)測環(huán)節(jié)、工程設(shè)計實例分析
 ◇ 監(jiān)測電路的可靠性問題與案例分析

第五章 電路設(shè)計中與“熱”相關(guān)的可靠性
1. 熱是如何影響電子產(chǎn)品的可靠性的？分析、計算與案例解析
2. 在電子設(shè)計中，如何控制“熱”的影響---10個要點與案例分析
3. 電路可靠性設(shè)計中關(guān)于“熱”的誤區(qū)---7個誤區(qū)與案例分析
4. 元器件連續(xù)工作和斷續(xù)工作，對壽命的影響

第六章 電路保護、防護等設(shè)計中的可靠性
1. 防反插設(shè)計中潛在的可靠性問題---結(jié)合實例分析
2. 上電沖擊存在的可靠性問題與案例分析
3. I/O口的可靠性隱患---5種I/O口沖擊方式，案例解析與規(guī)避策略
4. 主備冗余提高可靠性---幾種主備冗余的設(shè)計方法與實例
5. 多電路板通過連接器互連的設(shè)計中，潛在的可靠性問題與解決方法
6. 如何在過流保護電路的設(shè)計上提高可靠性，問題、策略與案例
7. 如何在防護電路的設(shè)計上提高可靠性，常見問題、規(guī)避方法與案例解析
8. 防護電路中TVS管應(yīng)用的可靠性要點與應(yīng)用實例
9. 鉗位二極管應(yīng)用中的可靠性問題，案例分析
10. 低功耗設(shè)計中的可靠性隱患

第七章 電源電路設(shè)計中的可靠性
1. 選擇電源模塊還是選擇電源芯片自己搭建電源電路---這兩種方案各自的優(yōu)勢及潛在的問題、案例分析
2. 電源電路最容易導(dǎo)致可靠性問題的幾個環(huán)節(jié)---分析與案例
3. LDO電源容易產(chǎn)生的幾個可靠性問題，及案例分析
4. 開關(guān)電源設(shè)計的六個可靠性問題---原理分析、實例波形、解決方法與工程策略
5. 提高電源電路可靠性的16個設(shè)計要點與案例分析

第八章 PCB設(shè)計、抗干擾設(shè)計中的可靠性
1. 表層走線還是內(nèi)層走線，各自的優(yōu)缺點，什么場合應(yīng)優(yōu)選表層走線，什么場合應(yīng)優(yōu)選內(nèi)層走線，實例分析
2. 如何規(guī)避表層走線對EMI的貢獻---方法與實例
3. 對PCB表層，在什么場合需要鋪地銅箔？什么場合不應(yīng)該鋪地銅箔？該操作可能存在的潛在的可靠性問題
4. 什么情況下應(yīng)該做阻抗控制的電路板---實例分析
5. 電源和地的噪聲對比
6. PCB設(shè)計中降低電源噪聲和干擾的策略
7. 對PCB設(shè)計中信號環(huán)路的理解---環(huán)路對干擾和EMI的影響，環(huán)路形成的方式，哪種環(huán)路允許在PCB上存在且是有益的，各種情況的案例分析
8. PCB上，時鐘走線的處理方式與潛在的可靠性問題，及案例分析
9. 在PCB設(shè)計中，如何隔離地銅箔上的干擾
10. 在PCB設(shè)計中，容易忽略的、工廠工藝限制導(dǎo)致的可靠性問題與案例分析
11. PCB設(shè)計中，與可靠性有關(guān)的幾個要點與設(shè)計實例
12. 電路設(shè)計中，針對PCB生產(chǎn)和焊接、組裝，可靠性設(shè)計的要點與實例分析
13. 如何控制并檢查每次改板時PCB的具體改動，方法與實例
14. 接地和抗干擾、可靠性的關(guān)系、誤區(qū)，7個綜合案例分析與課堂討論
15. 如何配置FPGA管腳，以提高抗干擾性能與可靠性---設(shè)計實例與設(shè)計經(jīng)驗

第九章 FMEA與硬件電路的可靠性
1. 解析FMEA
2. FMEA與可靠性的關(guān)系
3. FMEA可以幫助企業(yè)解決什么問題
4. FMEA在業(yè)內(nèi)開展的現(xiàn)狀
5. FMEA相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)與分析
6. FMEA計劃制定的10個步驟及各步驟的要點與實例分析
7. FMEA測試計劃書---實例解析、要點分析、測試方法
8. 在產(chǎn)品研發(fā)周期中，F(xiàn)MEA開始的時間點

第十章 軟硬件協(xié)同工作與可靠性
在很多場合，電子產(chǎn)品可靠性的提升，若能借助于軟件，則能省時省力，且效果更好。
因此硬件研發(fā)工程師需對軟件有一定的了解，并掌握如何與軟件部門協(xié)調(diào)，借助軟件的實現(xiàn)，提高電子產(chǎn)品可靠性的方法。
本章節(jié)，Randy基于多年產(chǎn)品研發(fā)的工作經(jīng)驗，總結(jié)出若干與軟件協(xié)同工作、提高可靠性的方法，并基于實際工程案例，詳細解析。
1. 軟件與硬件電路設(shè)計可靠性的關(guān)系
2. 軟硬件協(xié)同，提高可靠性的9個實例與詳細分析、策略與工程經(jīng)驗

優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)，提升培訓(xùn)效果
參訓(xùn)學(xué)員或者企業(yè)在課程結(jié)束后，可以享受相關(guān)的電磁兼容技術(shù)方面優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)，作為授課之補充，保證效果，達到學(xué)習(xí)目的。主要內(nèi)容如下： 
１.技術(shù)問題解答：培訓(xùn)后一年內(nèi)，如有課程相關(guān)技術(shù)問題，可通過電話、郵件聯(lián)系，我們將第一時間協(xié)助解決；
2.定期案例分享：分享不斷，學(xué)習(xí)不斷；
3.技術(shù)交流群：加入正式技術(shù)交流群，與行業(yè)大咖零距離溝通；
4.EMC元件選型技術(shù)支持：如學(xué)員在EMC元件選擇或應(yīng)用上有不清楚的地方可隨時與我們溝通；
5.往期經(jīng)典案例分析：行業(yè)典型EMC案例分享、器件選型等資料。
6.研討會：不限人數(shù)參加我們相關(guān)的線上或者線下研討會，企業(yè)內(nèi)部工程師可相互分享，共同成長。
7.EMC測試服務(wù)：在我處進行EMC測試服務(wù)，可享受會員折扣服務(wù)！

講師資歷——王老師
王老師（Randy Wang）是行業(yè)內(nèi)高級電路設(shè)計專家，資深硬件咨詢顧問。先后在華為等數(shù)家國內(nèi)外頂級公司的硬件研發(fā)部門任職，在電路設(shè)計、測試及相關(guān)技術(shù)管理領(lǐng)域有十七年的工作經(jīng)驗。對元器件選擇及常見故障分析、電源、時鐘、電路板噪聲抑制、抗干擾設(shè)計、電路可靠性設(shè)計、電路測試、高性能PCB的信號及電源完整性的設(shè)計，有極豐富的經(jīng)驗。其成功設(shè)計的電路板層數(shù)包括40層、28層、26層、22層、16層、10 層、8層、4層、2層等。其成功設(shè)計的最高密度的電路板，網(wǎng)絡(luò)數(shù)達兩萬，管腳數(shù)超過八萬。
  自2010年開設(shè)電路設(shè)計培訓(xùn)課程以來，Randy接觸過數(shù)百家不同類型的企業(yè)、研究所，幫助這些單位解決過大量工程設(shè)計中的問題。
Randy作為硬件電路專家，既有業(yè)內(nèi)大公司的工作經(jīng)歷，又有為業(yè)內(nèi)上百家企業(yè)、研究所提供技術(shù)服務(wù)、咨詢的經(jīng)歷，這些獨特的經(jīng)歷，使Randy的課程非常貼近工程實踐，完全做到了課程中的每個案例都來自于工作中的問題，每個技術(shù)要點都正中電路設(shè)計和故障調(diào)試的靶心。
因此Randy的課程以實戰(zhàn)性、實用性、能真正解決工程實際問題、能真正幫助工程師提升設(shè)計水平而廣受好評。
至今，Randy已舉辦過電路設(shè)計公開課及內(nèi)訓(xùn)課程兩百多場，培訓(xùn)學(xué)員五千多人。

部分合作企業(yè)
通用電氣、南京國電南瑞、美國湯姆遜公司、京東方科技集團、志高空調(diào)、蘇州樂軒科技、江蘇捷誠車載電子信息工程有限公司、長沙開元儀器股份有限公司、上�？ㄋ箍滦盘栍邢薰�、德賽西威汽車電子有限公司、中航613所、廣州航新航空科技股份有限公司、中航光電科技股份有限公司、北京鐵路信號公司、今創(chuàng)集團、北京交大微聯(lián)、上海三菱等。

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